粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)可代替三菱化學(xué)MCP-PD51

粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)可代替三菱化學(xué)MCP-PD51

 eLiPMS-2000 粉體電阻率測(cè)試系統(tǒng)組成、功能研究進展、性能表： 

系統(tǒng)搭配三菱化學(xué) Loresta-GX 高精度四探針儀 (MCP-T700)無障礙、自主開(kāi)發(fā)之測(cè)試軟件、一般辦公用電腦快速融入。

 1) 內(nèi)置的精密四探針探頭模腔組件及精密荷重測(cè)力傳感器單元認為，大施加壓力 30KN，約 95MPa增強； 在大壓力范圍內(nèi)可設(shè)置任意壓力點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試分析重要意義。一鍵啟動(dòng)，自動(dòng)進(jìn)行加壓更加廣闊、測(cè)試規劃、釋放。

2) 簡(jiǎn)易操作軟件界面可以使用，可設(shè)置壓力點(diǎn)下的保壓時(shí)間（保壓時(shí)間到再測(cè)試）進入當下，自動(dòng)測(cè)量壓實(shí)下粉末 之電阻、面電阻效高化、電阻率重要作用、電導(dǎo)率深入闡釋、厚度、壓強(qiáng)完成的事情、顆粒壓實(shí)密度特性等參數(shù)。

3) 系統(tǒng)通過(guò)與三菱化學(xué)LORESTA-GX(MCP-T700)低阻率計(jì)連接穩定，可測(cè)試寬范圍之粉體阻抗特征改造層面。 電阻測(cè)試范圍：0.001*10-4~9.999*107 Ω；電阻率=Ω*厚度（單位 cm）

4) *的探針單元優勢與挑戰，高精度四探針測(cè)試原理經驗分享，消除樣品與探頭及引線所引起的誤差。 也可以裁剪φ20mm 的正負(fù)電極片形成樣品來(lái)測(cè)試電池極片在不同壓力下的電阻特性趨勢；或者單 獨(dú)使用 MCP-T700 及其標(biāo)配探頭或選配探頭來(lái)測(cè)試片材有力扭轉，所謂一機(jī)兩用。

應(yīng)用：阻性粉末材料研發(fā)及品質(zhì)控制一站式服務。

 測(cè)試領(lǐng)域：碳 粉 如充電電池的電極材料廣度和深度、電子材料（電容器，電阻等）等

 金屬粉末：電池的電極材料引領作用、薄膜材料（銅粉末加強宣傳、ITO 粉末等等）、導(dǎo)電膏用的舒心、導(dǎo)電油漆和涂料技術發展、綠 色接觸材料等。

其它粉末： 墨粉和相關(guān)的粉體/磁性材料如鐵素體集成、汽車配件等材料